1. 如何正确选择待测元素的特征谱线?
- 解决方式:在测量之前,研究该元素的特征谱线,并根据所需的测量结果选择适合的特征谱线。
2. 如何确保供试品中待测元素的原子化效果?
- 解决方式:对供试品进行适当的预处理,如溶解、稀释、加热等,以确保待测元素能够充分原子化。
3. 如何准确测量辐射光强度的减弱程度?
- 解决方式:使用高质量的光电倍增管或光电二极管等光学传感器,确保测量结果的准确性。
4. 如何排除其他元素对待测元素吸收光的干扰?
- 解决方式:通过在同一工作条件下对比不含待测元素的标准溶液与待测样品的吸收情况,计算出干扰效应,并在结果中进行修正。
5. 如何选择合适的波长范围进行测量?
- 解决方式:根据待测元素的特征谱线的波长范围,在仪器设置中选择相应的波长范围进行测量。
6. 如何校准仪器以保证测量结果的准确性?
- 解决方式:使用标准溶液进行仪器校准,确保测量结果与已知含量之间的准确对应。
7. 如何处理供试品中存在的其他形态的待测元素?
- 解决方式:针对不同形态的待测元素,采用适当的前处理方法,如还原、氧化等,将其转化为可测量的形态。
8. 如何避免测量结果受到矩阵干扰的影响?
- 解决方式:使用内标法或标准添加法等方法,通过添加已知含量的参比物质来消除矩阵干扰。
9. 如何处理待测元素浓度过高或过低的样品?
- 解决方式:对于浓度过高的样品,可进行适当稀释;对于浓度过低的样品,可进行浓缩或超微量分析等方法。
10. 如何正确选择合适的仪器和设备?